|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Influence of the silicon nitride oxidation on the performances of NCLAD isolation
1
Expanded version of a talk presented at the European Solid State Device Research Conference, ESSDERC'96, Bologna, Italy, September 1996.
1 |
| Auteur: |
Tixier, A. Senez, V. Baccus, B. Marmiroli, A. Colpani, P. Rebora, A. Carnevale, G.P. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 38 (1998) nr. 5 pagina's 11 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |