|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Dielectric breakdown and reliability of MOS microstructures: Traditional characterization and low-frequency noise measurements |
| Auteur: |
Neri, B. Olivo, P. Saletti, R. Signoretta, M. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 35 (1995) nr. 3 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |