Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 6 van 20 gevonden artikelen
 
 
  Dynamic effects in hot-carrier degradation relevant for CMOS operation
 
 
Titel: Dynamic effects in hot-carrier degradation relevant for CMOS operation
Auteur: Weber, W.
Brox, M.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 33 (1993) nr. 11-12 pagina's 8 p.
Jaar: 1993
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 6 van 20 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland