Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 39 van 153 gevonden artikelen
 
 
  Effect of mechanical stress for thin SiO 2 films in TDDB and CCST characteristics
 
 
Titel: Effect of mechanical stress for thin SiO 2 films in TDDB and CCST characteristics
Auteur:
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 30 (1990) nr. 3 pagina's 622
Jaar: 1990
Inhoud:
Uitgever: Pergamon Press plc
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 39 van 153 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland