|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Reading reliability analysis and modeling in 1S1R devices based on Phase-Change Memory and Ovonic Threshold Switching selector integrated in a double-patterned self-aligned structure |
| Auteur: |
Antonelli, Renzo De Camaret, C. Bourgeois, G. Saghi, Z. Monniez, T. Martin, S. Castellani, N. Bernard, M. Fellouh, L. Salvi, A. Gout, S. Andrieu, F. Souifi, A. Navarro, G. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 172 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |