|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
OFF-state breakdown and threshold voltage stability of vertical GaN-on-Si trench MOSFETs |
| Auteur: |
Fregolent, M. Bergamin, F. Favero, D. De Santi, C. Cester, Andrea Huber, C. Meneghesso, G. Zanoni, E. Meneghini, M. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 169 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |