|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 63 van 63 gevonden artikelen
| Titel: |
Wire bonding failure characterization of an IGBT based power module through impedance analysis |
| Auteur: |
Vidal, P.-E. Baffreau, S. Viné, G. Gopishetti, A. Long, T.L. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 168 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 63 van 63 gevonden artikelen
| << vorige |