|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 60 van 63 gevonden artikelen
| Titel: |
Toward understanding the impacts of dynamic Ron on the efficiency in GaN-based AC-DC flyback converter |
| Auteur: |
Chang, Chih-Yao Hsieh, Hsing-Hua Ho, Cheng-Tsung Wu, Tsung-Hsiu Tsou, Ming-Chang Hsiung, Chih-Wen Chuang, Ming-Nan Wu, Tian-Li |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 168 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 60 van 63 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |