|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 57 van 63 gevonden artikelen
| Titel: |
Thermal ageing monitoring in CuAl intermetallic joints through electrical resistance drift: Comparative study of lifetime potential in pure and alloyed copper wires |
| Auteur: |
Carluccio, R. Mancaleoni, A. Losacco, G. Villa, R. Serafini, A. Guarino, L. Dellasega, D. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 168 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 57 van 63 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |