|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Single event effects hardening in SiC double-trench MOSFETs |
| Auteur: |
Sun, Shuqing Chen, Feida Sun, Yongbo Li, Yongxing Yang, Kun Tang, Xiaobin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 164 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 14 gevonden artikelen
| << vorige |