|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Research of SEB effects in trench IGBT based on the TCAD simulation |
| Auteur: |
Gong, Yanfei Chen, Xingtong Li, Zhensong Zhao, Qiang Fan, Jieqing Zhang, Fang Dong, Zhiwei |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 162 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |