|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Characteristics and avalanche investigation of SiC VDMOSFETs with enhanced P-Based implantation |
| Auteur: |
Luo, Houcai Zhang, Jingping Wu, Huan Zheng, Bofeng Wang, Xiao Zheng, Kai Zhang, Guo-Qi Chen, Xianping |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 160 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |