|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Interface traps in the sub-3 nm technology node: A comprehensive analysis and benchmarking of negative capacitance FinFET and nanosheet FETs - A reliability perspective from device to circuit level |
| Auteur: |
Valasa, Sresta Kotha, Venkata Ramakrishna Vadthiya, Narendar |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 160 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |