|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Sensitivity study of super-junction power MOSFETs by spatial and depth resolved heavy ion SEE mapping with various bias, LETs and ion ranges |
| Auteur: |
Gerold, M. Dollinger, G. Günther, L. Reindl, J. Rüb, M. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 155 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |