|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation on the electro-thermal instability process of thermal runaway under high temperature based on TCAD |
| Auteur: |
Ma, Xiao Huang, Yongle Xiao, Fei Luo, Yifei Liu, Binli Tang, Xin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 154 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |