|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Comphy v3.0—A compact-physics framework for modeling charge trapping related reliability phenomena in MOS devices |
| Auteur: |
Waldhoer, Dominic Schleich, Christian Michl, Jakob Grill, Alexander Claes, Dieter Karl, Alexander Knobloch, Theresia Rzepa, Gerhard Franco, Jacopo Kaczer, Ben Waltl, Michael Grasser, Tibor |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 146 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |