|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical characterization and temperature reliability of 4H-SiC Schottky barrier diodes after Electron radiation |
| Auteur: |
Xiang, Meiju Wang, Duowei He, Mu Rui, Guo Ma, Yao Zhu, Xuhao Mei, Fan Gong, Min Li, Yun Huang, Mingmin Yang, Zhimei |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 141 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |