|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Mechanisms and shielding characteristics of alpha particle-induced soft errors in 28 and 40 nm configuration memories of SRAM-based FPGAs |
| Auteur: |
Luo, Jun-Yang Zhang, Hong Zhang, Zhan-Gang Lei, Zhi-Feng Guo, Jin-Long Du, Guang-Hua Peng, Chao He, YuJuan Zhong, Xiang-Li |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 140 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |