|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of the dielectric properties of Au/Bi4Ti3O12-SiO2/n-Si (MFIS) type structures depending on gamma-irradiation |
| Auteur: |
Baydilli, Esra Evcin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 140 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |