|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 86 van 115 gevonden artikelen
| Titel: |
Power cycling tests under driving ΔTj = 125 °C on the Cu clip bonded EV power module |
| Auteur: |
Kim, Dongjin Lee, Byeongsoo Lee, Tae-Ik Noh, Seungjun Choe, Chanyang Park, Semin Kim, Min-Su |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 138 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 86 van 115 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |