|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 115 gevonden artikelen
| Titel: |
Capture and emission time map to investigate the positive VTH shift in p-GaN power HEMTs |
| Auteur: |
Modolo, N. Fregolent, M. Masin, F. Benato, A. Bettini, A. Buffolo, M. De Santi, C. Borga, M. Posthuma, N. Bakeroot, B. Decoutere, S. Vogrig, D. Neviani, A. Meneghesso, G. Zanoni, E. Meneghini, M. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 138 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 115 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |