|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 115 gevonden artikelen
| Titel: |
Benchmarking the robustness of Si and SiC MOSFETs: Unclamped inductive switching and short-circuit performance |
| Auteur: |
Ortiz Gonzalez, J. Deb, A. Bashar, E. Agbo, S.N. Jahdi, S. Alatise, O. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 138 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 115 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |