Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 105 van 115 gevonden artikelen
 
 
  Single-event burnout of LDMOS with polygon P+ structure
 
 
Titel: Single-event burnout of LDMOS with polygon P+ structure
Auteur: Wang, Shiping
Cai, Xiaowu
Li, Xiaojing
Li, Duoli
Zeng, Chuanbin
Jin, Meichen
Wang, Jiajia
Li, Jiangjiang
Zhao, Fazhan
Li, Bo
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 138 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2022
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 105 van 115 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland