|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
A general approach for degradation modeling to enable a widespread use of aging simulations in IC design |
| Auteur: |
Lange, André Gonzalez, Fabio A. Velarde Giering, Kay-Uwe Vervantidis, Anastasios Hahne, Lukas Heinig, Andy Jancke, Roland |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 137 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |