|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Heavy-ion induced gate damage and thermal destruction in double-trench SiC MOSFETs |
| Auteur: |
Wang, Lihao Jia, Yunpeng Zhou, Xintian Zhao, Yuanfu Wang, Liang Li, Tongde Hu, Dongqing Wu, Yu Deng, Zhonghan |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 137 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |