|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Influence of LDD spacers on total ionizing dose response of the transconductance for bulk MOSFETs working at cryogenic temperatures |
| Auteur: |
Cussac, G. Nuns, T. Ducret, S. Duzellier, S. Artola, L. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 135 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |