|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Demonstration of Schottky barrier diode integrated in 200 V power p-GaN HEMTs technology with robust stability |
| Auteur: |
Gallardo, Jethro Oroceo Dash, Sachidananda Tran, Thanh Nga Huang, Zhen-Hong Tang, Shun-Wei Wellekens, Dirk Bakeroot, Benoit Syshchyk, Olga De Jaeger, Brice Decoutere, Stefaan Wu, Tian-Li |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 134 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |