|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability evaluation of FPGA based pruned neural networks |
| Auteur: |
Gao, Zhen Yao, Yi Wei, Xiaohui Yan, Tong Zeng, Shulin Ge, Guangjun Wang, Yu Ullah, Anees Reviriego, Pedro |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 130 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |