|
Hot-carrier evaluation of a zero-cost transistor developed via process optimization in an embedded non-volatile memory CMOS technology |
|
|
|
Titel: |
Hot-carrier evaluation of a zero-cost transistor developed via process optimization in an embedded non-volatile memory CMOS technology |
Auteur: |
Devoge, P. Aziza, H. Lorenzini, P. Julien, F. Marzaki, A. Malherbe, A. Mantelli, M. Cabout, T. Delalleau, J. Haendler, S. Regnier, A. Niel, S. |
Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
Paginering: |
Jaargang 126 () nr. C pagina's p. |
Jaar: |
2021 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|