|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 37 van 111 gevonden artikelen
| Titel: |
Fatigue crack evolution and effect analysis of Ag sintering die-attachment in SiC power devices under power cycling based on phase-field simulation |
| Auteur: |
Su, Yutai Fu, Guicui Liu, Changqing Liu, Canyu Long, Xu |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 126 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 37 van 111 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |