|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Degradation modeling with spatial mapping method in low temperature poly silicon thin film transistor aged off-state bias |
| Auteur: |
Kim, Kihwan Song, Minjoon Kim, Soonkon Kim, Hyojung Jeon, Sangho Cho, Youngmi Kim, Yongjo Choi, Byoungdeog |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 116 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |