|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Cryogenic investigation of the negative pinch-off voltage Vpinch-off, leakage current and interface defects in the Al0.22Ga0.78N/GaN/SiC HEMT |
| Auteur: |
Jabbari, I. Baira, M. Maaref, H. Mghaieth, R. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 116 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |