|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Observation of single event burnout (SEB) in an SOI NLDMOSFET using a pulsed laser |
| Auteur: |
Shu, Lei Qi, Chun-Hua Galloway, Kenneth F. Zhao, Yuan-Fu Cao, Wei-Yi Li, Xin-Jian Wang, Liang Zhang, En-Xia Wang, Xin-Sheng Shi, Rui-Xin Zhou, Xin Chen, Wei-Ping Qiao, Ming Zhou, Bin Liu, Chao-Ming Ma, Liang Zhang, Yan Qing Wang, Tian-Qi |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 116 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |