|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Extensive assessment of the charge-trapping kinetics in InGaAs MOS gate-stacks for the demonstration of improved BTI reliability |
| Auteur: |
Putcha, Vamsi Franco, Jacopo Vais, Abhitosh Kaczer, Ben Xie, Qi Maes, Jan Willem Tang, Fu Givens, Michael Collaert, Nadine Linten, Dimitri Groeseneken, Guido |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 115 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |