|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 83 van 175 gevonden artikelen
| Titel: |
Gate-damage accumulation and off-line recovery in SiC power MOSFETs with soft short-circuit failure mode |
| Auteur: |
Castellazzi, A. Richardeau, F. Borghese, A. Boige, F. Fayyaz, A. Irace, A. Guibaud, G. Chazal, V. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 114 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 83 van 175 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |