|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 175 gevonden artikelen
| Titel: |
A comparison study on electromagnetic susceptibility of current reference circuits with scaling-down technologies and schemes |
| Auteur: |
Wang, Zhian Li, Binhong Wu, Jianfei Zhao, Wenxin Li, Bo Liu, Hainan Guan, Chongjie Feng, Shiwei Luo, Jiajun Ye, Tianchun |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 114 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 175 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |