|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 157 van 175 gevonden artikelen
| Titel: |
Single-event induced failure mode of PWM in DC/DC converter |
| Auteur: |
Gao, J. Li, C. Li, B. Li, B. Zhao, F. Li, J. Zhang, G. Wang, C. Zeng, C. Cui, S. Wu, Q. Luo, J. Han, Z. Liu, J. Ye, T. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 114 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 157 van 175 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |