Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 121 van 175 gevonden artikelen
 
 
  Multiple failure mode identification of SiC planar MOSFETs in short-circuit operation
 
 
Titel: Multiple failure mode identification of SiC planar MOSFETs in short-circuit operation
Auteur: Wang, Bixuan
Liu, Jingcun
Li, Wanping
Zhang, Guogang
Geng, Yingsan
Wang, Jianhua
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 114 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2020
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 121 van 175 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland