|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
FEM-based combined degradation model of wire bond and die-attach for lifetime estimation of power electronics |
| Auteur: |
Grams, Arian Jaeschke, Johannes Wittler, Olaf Fabian, Benjamin Thomas, Sven Schneider-Ramelow, Martin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 111 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |