|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrostatic discharge robustness of amorphous indium-gallium-zinc-oxide thin-film transistors |
| Auteur: |
Simicic, Marko Ashif, Nowab Reza Hellings, Geert Chen, Shih-Hung Nag, Manoj Kronemeijer, Auke Jisk Myny, Kris Linten, Dimitri |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 108 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |