|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 652 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
Lift-out techniques coupled with advanced TEM characterization methods for electrical failure analysis |
| Auteur: |
Bicaı̈is-Lépinay, N. André, F. Pantel, R. Jullian, S. Margain, A. Kwakman, L.F.Tz. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 42 (2002) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 652 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |