Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 122 van 572 gevonden artikelen
 
 
  Characterization of flip chip bonded structure with Cu ABL power bumps
 
 
Titel: Characterization of flip chip bonded structure with Cu ABL power bumps
Auteur: Ma, Junsung
Kim, Sungdong
Kim, Sarah Eunkyung
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 54 (2014) nr. 8 pagina's 5 p.
Jaar: 2014
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 122 van 572 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland