|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 100 van 3051 gevonden artikelen
| Titel: |
A high-quality cross-sectional transmission electron microscope specimen preparation technique for structural and interfacial property studies in microelectronic packaging |
| Auteur: |
Marks, M.R. Wei, Qin Jiaji, Wang Yi, Chen |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 35 (1995) nr. 5 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 100 van 3051 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |