|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 96 van 190 gevonden artikelen
| Titel: |
Initial and PBTI-induced traps and charges in Hf-based oxides/TiN stacks |
| Auteur: |
Reimbold, G. Mitard, J. Garros, X. Leroux, C. Ghibaudo, G. Martin, F. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 47 (2007) nr. 4-5 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 96 van 190 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |