|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 184 van 190 gevonden artikelen
| Titel: |
Use of preliminary ultraviolet and infrared illumination for diagnostics of MOS and bipolar devices radiation response |
| Auteur: |
Pershenkov, V.S. Avdeev, S.V. Tsimbalov, A.S. Levin, M.N. Belyakov, V.V. Ivashin, D.V. Slesarev, A.Y. Bashin, A.Y. Zebrev, G.I. Ulimov, V.N. Emelianov, V.V. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 42 (2002) nr. 4-5 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 184 van 190 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |