|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Low rate deep level transient spectroscopy - a powerful tool for defect characterization in wide bandgap semiconductors |
| Auteur: |
Schmidt, Florian von Wenckstern, Holger Breitenstein, Otwin Pickenhain, Rainer Grundmann, Marius |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 92 (2014) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |