|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Comprehensive study of the statistical variability in a 22nm fully depleted ultra-thin-body SOI MOSFET |
| Auteur: |
Mohd Zain, Anis Suhaila Markov, Stanislav Cheng, Binjie Asenov, Asen |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 90 (2013) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |