|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of heavily doped SOI wafers under pseudo-MOSFET configuration |
| Auteur: |
Liu, F.Y. Diab, A. Ionica, I. Akarvardar, K. Hobbs, C. Ouisse, T. Mescot, X. Cristoloveanu, S. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 90 (2013) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |