|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative studies on electrical bias temperature instabilities of In–Ga–Zn–O thin film transistors with different device configurations |
| Auteur: |
Ryu, Min-Ki Ko Park, Sang-Hee Hwang, Chi-Sun Yoon, Sung-Min |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 89 (2013) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |