|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Influence of device architecture on junction leakage in low-temperature process FDSOI MOSFETs |
| Auteur: |
Sklenard, Benoit Batude, Perrine Rafhay, Quentin Martin-Bragado, Ignacio Xu, Cuiqin Previtali, Bernard Colombeau, Benjamin Khaja, Fareen-Adeni Cristoloveanu, Sorin Rivallin, Pierrette Tavernier, Clement Poiroux, Thierry |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 88 (2013) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |